Магнитная фокусировка (физика твёрдого тела)
Магнитная фокусировкаШаблон:Refn — концентрация потока электронов (квазичастиц) из одного точечного контакта в другой с помощью магнитного поля. Электроны в металлах можно рассматривать как квазичастицы свободно движущиеся в кристалле, подобно свободным электронам. Значит на их движение должно влиять внешнее магнитное поле по аналогии с пучками заряженных частиц в вакуумеШаблон:Sfn. Фокусировка электронов в чистых материалах (монокристаллах), где их длина свободного пробега сравнима с расстоянием между контактами, позволяет исследовать рассеяние локализованных в одной точке поверхности Ферми группы квазичастиц[1].
Качественное объяснение
Продольная фокусировка

Возможность осуществления магнитной фокусировки в твёрдом теле предположил Ю. В. Шарвин в 1965 году[3], который совместно с Л. М. Фишером позже наблюдал продольную (магнитное поле параллельно линии, соединяющей контакты) электронную фокусировку в тонкой металлической плёнке[2]. В их эксперименте два микроконтакта эмиттер и коллектор располагались напротив друг друга на разных сторонах тонкой металлической плёнки (Рис. 1)Шаблон:Sfn.
При продольной фокусировке величина магнитного поля Шаблон:Math, при котором электроны, вылетевшие из эмиттера Шаблон:Math, фокусируются на коллекторе Шаблон:Math, определяется из условия кратности периоду движения Шаблон:Math времени движения из контакта в контакт,
где Шаблон:Math — расстояние между контактами (толщина пластины), а Шаблон:Math=2π/ωc определеяется циклотронной частотой — , Шаблон:Mathc — циклотронная масса, Шаблон:MathH — составляющая скорости электрона вдоль магнитного поля, n=1,2,3….
На коллекторе фокусируется максимальное число электронов при экстремальных значениях его смещения вдоль магнитного поля за период
где — сечение поверхности Ферми плоскостью постоянного значения импульса электрона вдоль магнитного поля . Соответственно, особенности на зависимости потенциала на коллекторе от магнитного поля возникают в особых точках функции , для которых вторая производная обращается в ноль . Кроме того, число фокусируемых электронов максимально для краевых значений , соответствующих эллиптическим точкам экстремума на поверхности Ферми, в которых , а , где Шаблон:Math — гауссова кривизна.
Поперечная фокусировка

Электронный транспорт в поперечном магнитном поле впервые рассмотрел Брайан Пиппард 1965 году[5]. Однако его метод не использовал точечные контакты. Современная реализация магнитной фокусировки электронов в металле с двумя микроконтактами была предложена В. С. Цоем в 1974 году[4]. В геометрии экспериментов В. С. Цоя по поперечной магнитной фокусировке два точечных контакта располагаются на одной поверхности металла, а магнитное поле параллельно поверхности и направлено перпендикулярно соединяющей контакты линии (Рис. 2)Шаблон:Sfn.
При поперечной фокусировке электроны, инжектированные эмиттером Шаблон:Math, фокусируются на коллекторе Шаблон:Math, если на расстоянии между контактами Шаблон:Math укладывается целое число хорд сегментов траекторий электронов Шаблон:Math, «скачущих» вдоль поверхности, , а дрейф орбиты вдоль магнитного поля отсутствует, , где , — хорда поверхности Ферми в направлении нормали к границе, — фаза электрона на циклотронной траектории, с которой электрон «стартует» из эмиттера.
Число попадающих в коллектор электронов максимально, если условие поперечной фокусировки выполнено для носителей заряда, соответствующих экстремальному диаметру поверхности Ферми , для которого .
Двумерные системы
Впервые магнитная фокусировка электронов в думерной системе наблюдалась в 1989 году в гетероструктуре с двумерным электронным газом на основе GaAs/AlGaAs. В работе использовалась система квантовых точечных контактов для измерения нелокального электронного транспорта в четырёхконтактных образцах[6].
Магнитная фокусировка (электронов или дырок) может наблюдаться в графене, двухслойном графене и трёхслойном графене, где позволяет исследовать зонную структуру материала[7].
Примечания
Комментарии
Источники
Шаблон:Примечания